随着新的信息出现,iPhone 6, +弯曲问题称为bendgate可能比苹果承认,一份新报告表明,一些iPhone 6 +设备的记忆缺陷可能引发大规模召回的手机。

一份新的报告称,苹果可能会与128 GB的iPhone 6 +大问题,一些设备不断地碰撞和重启由于记忆缺陷与“控制器集成电路triple-level细胞(TLC) NAND闪存记忆。似乎出现问题尤其是在这些设备上安装了一个非常大的应用程序库的主人。

TLC闪存,用于128 GB的iPhone 6 +模型和一些ipad,但显然不是在大多数其他苹果的iPhone模型、存储更多的数据和更便宜比其他内存类型,但在速度和稳定比其他类型的内存。这份报告州“一些业内人士认为,如果TLC flash的确是缺陷的原因,苹果可能召回已售出的所有产品到目前为止。”

与此同时,另一个报告表明,iPhone上的弯曲问题6和iPhone 6 +设备称为bendgate比苹果公司已经公开承认的一个更大的问题。

该报告指出,苹果目前正在跟踪返回设备以弯曲问题,与苹果专用的屏幕选项商店的POS系统具体要求员工处理返回指示是否由于设备被弯曲。显然这是唯一的问题系统询问原因返回,这表明苹果认为它广泛,尽管它声称。

此外,该报告证实了以前版本的商店的返回系统只问了一个普遍的问题就是关于手机是否返回一个缺陷,从未清单一个特定的选项,因为它现在的弯曲问题。

当然这不是最后我们会听到这些潜在的iPhone iPhone 6 + 6和缺陷。我们一定会继续把你的最新消息,因为它的发展。